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FR-Ultra是一種緊湊型設備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。
更新時間：2024-11-09
型號：
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：1924
Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
更新時間：2024-11-26型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：4493
Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
更新時間：2024-11-09型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：3594
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更新時間：2024-11-09型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：2575
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更新時間：2024-11-09型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：2936
Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米
更新時間：2024-11-26型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：4400