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在電子顯微鏡(電鏡)的微觀探索領(lǐng)域,圖像的清晰性和準確性至關(guān)重要。而電鏡防振臺作為保障電鏡穩(wěn)定運行的關(guān)鍵部件,其特殊的結(jié)構(gòu)原理發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。電鏡防振臺的主要目標(biāo)是隔離外界振動對電鏡的干擾,為電鏡創(chuàng)造一個近乎“靜止”的工作環(huán)境。其結(jié)構(gòu)...
光學(xué)粗糙度測試儀是一種用于測量光學(xué)元件表面粗糙度的專業(yè)儀器。本文將介紹該測試儀器的基本原理和構(gòu)造,以及其在工程、科研等領(lǐng)域中的應(yīng)用。第一段:基本原理和構(gòu)造光學(xué)粗糙度測試儀主要利用光的散射原理來測量光學(xué)元件表面的粗糙度。其基本原理是通過向被測物體表面照射光源,利用光學(xué)元件將散射光收集起來,經(jīng)過后續(xù)分析得到粗糙度信息。該測試儀器的構(gòu)造包括光源、物鏡、三棱鏡、探測器等部分,每個部分都有不同的作用。第二段:在工程領(lǐng)域中的應(yīng)用該測試儀器在工程領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用于光學(xué)元件的制造和表面質(zhì)量的...
白光干涉儀是一種光學(xué)精密測量儀器,主要用于測量微小物體的形貌和薄膜的厚度等。本文將介紹它的基本原理和構(gòu)造,以及其在工程、科研等領(lǐng)域中的應(yīng)用。第一段:基本原理和構(gòu)造白光干涉儀是一種利用光的干涉原理進行測量的儀器。其基本原理是將分束器分成兩路,一路經(jīng)過反射鏡反射,與另一路相遇后發(fā)生干涉,通過探測器檢測干涉條紋的形態(tài)和數(shù)量,得到被測物體表面形貌和薄膜厚度等信息。該儀器的構(gòu)造包括光源、分束器、反射鏡、標(biāo)準板、探測器等部分,每個部分都有不同的作用。第二段:在工程領(lǐng)域中的應(yīng)用目前,該儀器...
納米壓痕儀是一種用于材料力學(xué)性能表征的重要工具。它可以通過在材料表面施加微小載荷并測量其反應(yīng)來確定材料的硬度、彈性模量、塑性變形等指標(biāo),是研究材料力學(xué)性能的重要手段之一。本文將介紹該儀器的原理、應(yīng)用和意義,并探討其在材料科學(xué)和工程中的重要性。納米壓痕儀的原理是利用金剛石壓頭在材料表面施加預(yù)定載荷,并測量載荷下材料表面的位移量,從而確定硬度、彈性模量和塑性指數(shù)等力學(xué)參數(shù)。具體而言,當(dāng)壓頭施加力時,會在材料表面產(chǎn)生類似于凹坑的形狀,同時會引起材料表面位移。應(yīng)用基于反向微分算法的壓...
膠水在工業(yè)生產(chǎn)和日常生活中被廣泛使用,但在膠粘劑固化后,常常會留下難以清除的殘留物。這些膠水殘留對產(chǎn)品外觀和性能都有負面影響,因此解決膠水殘留問題成為了一個緊迫而重要的任務(wù)。在眾多去膠技術(shù)中,等離子去膠技術(shù)以其高效、環(huán)保的特點日漸受到關(guān)注。等離子去膠技術(shù)是一種利用等離子體的高能量和反應(yīng)性來去除膠水殘留的方法。它通過將所需清潔的物體放置在等離子體發(fā)生器中,使膠水殘留的表面暴露在等離子體的作用下。等離子體釋放出的高能量粒子會與膠水殘留發(fā)生碰撞并破壞其分子結(jié)構(gòu),從而去除膠水。該技術(shù)...
隨著電子產(chǎn)品的不斷發(fā)展,薄膜電阻在電路板、顯示器、傳感器等領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。而對薄膜電阻進行準確測試是保證電子產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵。為此,薄膜電阻測試儀應(yīng)運而生,成為提升電子產(chǎn)品質(zhì)量控制的重要工具。薄膜電阻測試儀是一種通過測量薄膜電阻的阻值和溫度系數(shù),來評估薄膜電阻性能的設(shè)備。其原理基于電流-電壓(I-V)特性曲線的測量,通過施加電壓并測量相應(yīng)的電流來計算薄膜電阻的阻值。同時,通過改變環(huán)境溫度并測量電阻的變化,可以評估薄膜電阻的溫度系數(shù)。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊,操作簡便,能夠快速...